Comet Yxlon GmbH

• Продуктова гама: Серия CC
• Индустрия: Автомобилна индустрия, електроника, космическа индустрия, наука и изследвания, полупроводници
• Размер на дефекта: <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Размер на компонента: малък, среден
• Режим на работа: 2D, 3D, 2D/3D

• Надеждни, бързи и повторяеми проверки - ръчни и автоматични
• Автоматичен анализ на празнотите с VoidInspect
• Лесни за използване филтри за динамично подобряване на изображенията, напр. eHDR
• Най-добри резултати при ламинографията със софтуера micro3Dslice и FF CT
• Намаляване на дозата и режим на детектор с ниска доза за чувствителни компоненти
• Опционален висок капацитет на натоварване (< 20 kg)

Поради непрекъснатата миниатюризация на електронните компоненти все повече компоненти трябва да се побират на все по-малка площ. Затова за най-точни и повтарящи се резултати една система за изпитване трябва не само да осигурява най-висока производителност и разделителна способност, но и да е оборудвана с филтри за динамично подобряване на изображението. Cheetah EVO се отличава с:

Големи плоски детектори с до 50 % по-голяма площ за инспекция за по-добър преглед и по-бързи работни процеси поради по-малкия брой стъпки в автоматичните последователности

Най-добра ламинография с micro3Dslice, с подробна 3D визуализация за бърз и лесен анализ на дефектите - за значително намаляване на разходите в сравнение с микронарязването

Автоматичен анализ на празните места с VoidInspect CL или DR, работните потоци за инспекция, базирани на ламинография или радиоскопия, които позволяват бърза, безразрушителна оценка на празните места в спойките на компонентите на печатни платки.

THTInspect DR, полуавтоматичен анализ на дефекти за проверка на нивото на запълване на THT-базирани компоненти в 2D

Интегриране в производствената линия: директна комуникация с поточни AOI/AXI системи за проверка чрез използване на ProLoop

Опционална висока товароносимост (< 20 kg) с подсилена механика и маса за проби: множество компоненти и електронни връзки в неподвижни корпуси могат да се проверяват едновременно, за да се спести време.

Изпитване на полупроводници: максимална разделителна способност с минимално напрежение

Електронните компоненти и полупроводниковите устройства са ключови елементи на повечето електронни системи. Поради тяхната компактност и плътност проверката им изисква максимална разделителна способност на изображението при ниска мощност и ниско напрежение. Сглобките с празни пространства, включително с многообластни празни пространства, изискват точни и повтарящи се процедури за проверка. Comet Yxlon

Cheetah EVO предлага:

• Високочувствителен детектор с опционален режим на ниска доза
• Откриване на високи детайли чрез интегрирана верига от изображения
• Интегрирано автоматично откриване на дефекти с FGUI (напр. празноти в неравности)